SEM掃描電鏡是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。

 從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

①觀察納米材料

 所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi)，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶體、非晶態(tài)不同的、獨特的物理化學性質(zhì)。納米材料有著廣闊的發(fā)展前景，將成為未來材料研究的重點方向。掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率?，F(xiàn)已廣泛用于觀察納米材料。

②材料斷口的分析

掃描電鏡的另一個重要特點是景深大，圖象立體感強。掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。由于圖象景深大，所以掃描電子象立體感強，具有三維形態(tài)，能夠提供比其他顯微鏡更多信息，這個特點對使用者很有價值。SEM掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在教學、科研和生產(chǎn)中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。

③直接觀察原始表面

它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，使制備樣品更簡單，而且能真實觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度

④觀察厚試樣

其在觀察厚試樣時，能得到高的分辨率和真實的形貌。SEM掃描電鏡的分辨率介于光學顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，但在對厚塊試樣的觀察進行比較時，因為在透射電子顯微鏡中還要采用復膜方法，而復膜的分辨率通常只能達到10nm，且觀察的不是試樣本身。因此，用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利，更能得到真實的試樣表面資料。

⑤觀察各個區(qū)域的細節(jié)

試樣在樣品室中可動的范圍非常大，其他顯微鏡的工作距離通常只有2-3cm，所以實際上只許可試樣在兩度空間內(nèi)運動，但在掃描電鏡中則不同。由于工作距離大。焦深大。樣品室的空間也大。因此，可以讓試樣在三度空間內(nèi)有6個自由度運動。

上面內(nèi)容就是介紹的掃描電鏡主要用來觀察幾個方向，更多關(guān)于掃描電鏡的問題歡迎撥打網(wǎng)站上面的電話咨詢哦