掃描電鏡在元素分析方面的能力主要依賴于其配備的能量色散譜儀（EDS）或其他相關附件。通過收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的特征X射線，EDS能夠分析樣品表面微區(qū)的元素種類與含量。

SEM掃描電鏡可以分析的元素包括但不限于：

所有元素：理論上，SEM-EDS系統(tǒng)可以分析周期表中的所有元素。然而，實際檢測能力受到多種因素的影響，如儀器的靈敏度、樣品的特性（如元素含量、樣品制備方式等）以及背景噪聲等。

輕元素與重元素：EDS具有較高的元素檢測靈敏度，可以分析包括輕元素（如氫、氦等，盡管對于極輕的元素如氫，可能需要特殊的技術或方法）和重元素在內(nèi)的多種元素。

掃描電鏡在元素分析中的應用特點包括：

高分辨率：SEM掃描電鏡具有高分辨率，可以觀察到納米級別的樣品表面形貌和微區(qū)結(jié)構(gòu)，從而更精確地定位和分析元素分布。

高靈敏度：EDS具有較高的元素檢測靈敏度，能夠檢測到微量的元素成分。

定量分析：通過校準和校正，EDS可以實現(xiàn)元素含量的定量分析，為材料研究提供準確的數(shù)據(jù)支持。

無損檢測：掃描電鏡元素成分分析是一種無損檢測技術，不會對樣品造成破壞或污染。

需要注意的是，雖然SEM-EDS系統(tǒng)在元素分析方面具有強大的能力，但其檢測能力也受到一些限制。例如，對于某些特定元素或特定樣品條件，可能需要采用其他更專業(yè)的分析技術來獲得更準確的結(jié)果。此外，樣品制備和儀器操作等因素也可能對分析結(jié)果產(chǎn)生影響。

綜上所述，SEM掃描電鏡可以分析周期表中的大多數(shù)元素，其在元素分析中的應用具有廣泛的適用性和重要的科學價值。